您当前的位置：首页 > 热空气老 化
什么是支化度？ 支化是指在一定的条件下形成枝状非线性结构高分子的过程。 支化度是指单位体积中支化点的数目或支化点间的平均相对分子量。 支化度=(Σ 支化单元+ Σ 未端单元)/ Σ 重复单元 支化度的测定方...查看详情>>
什么是支化度？
支化度的测定方法有哪些？
支化度标识的是链烷异构化成都，支化度是室友化学机构研究的一个重要参数，聚乙烯支化度通畅以1000个碳原子中含有的甲基数来表征。测定聚乙烯支化度的常用方法有红外光谱法、裂解气相色谱法、高分辨固体核磁共振法、凝胶渗透色谱（GPC）法等。红外光谱法测定聚乙烯支化度具有简单、快速、准确等优点。
收起百科↑ 最近更新：2019年09月20日
检测项：耐漏电起痕 检测样品：电工电子 产品 标准：固体绝缘材料在潮湿条件下相比电痕化指数和耐电痕化指数的测定方法 GB/T 4207-2012 IEC 60112:2009
机构所在地：
检测项：蒸发残渣 检测样品：与食品接触材料 标准：与食品接触的材料和物品.硅化表面.第2部分:除陶瓷品外测定从硅化表面释放的铅和镉 DIN EN 1388-2:1995
机构所在地：上海市
检测项：聚丙烯酸类塑料应力银纹化试验 检测样品：民用航空化学品（续） 标准：只用1a.2型和1c型试样
检测项：聚丙烯酸类塑料应力银纹化试验 检测样品：民用航空化学品（续） 标准：只用4.5.2
检测项：水平燃烧试验 检测样品：民用航空非金属材料 标准：只用第1章
机构所在地：四川省成都市
检测项：老炼（二极管、整流管和稳压管） 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005
检测项：老炼（晶体管） 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005
机构所在地：湖北省武汉市
检测项：老视镜顶焦度互差 检测样品：配装眼镜(渐变焦) 标准：配装眼镜 第2部分：渐变焦GB 13511.2-2011
检测项：粉化率 检测样品：中国对虾配合饲料 标准：对虾配合饲料 SC/T 2002-2002
机构所在地：福建省厦门市
检测项：老炼 检测样品：电子元器件 标准：GJB 128A-1997《 半导体分立器件试验方法》
检测项：老炼 检测样品：电子元器件 标准：GJB548B-2005《微电子器件试验方法和程》序
机构所在地：北京市
检测项：高温电老炼 检测样品：电容器 标准：电子及电气元件试验方法GJB360B-2009
检测项：高温电老炼 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005
机构所在地：河南省郑州市
检测项：老炼试验 检测样品：电子元器件 标准：半导体分立器件试验方法GJB128A-1997 方法2052
检测项：老炼试验 检测样品：电子元器件 标准：电子及电气元件试验方法GJB360B-2009方法217
检测项：老炼试验 检测样品：电子元器件 标准：半导体分立器件试验方法GJB128A-1997 方法2052
机构所在地：四川省成都市
